信息中心
偏光显微镜在生物学中的应用
偏光显微镜在物理化学中被用于方位角旋转的测定和双折射介质中相位差的测定。而它的Zui精确的定量应用是在矿物学和岩石学中光轴的准确断定，在双折射基础上晶体的鉴定是岩石学和矿物学中大量的、经常的工作。
电子显微镜的认识之旅
1932年鲁斯卡发明创制了第一台透射电子显微镜实验装置(TEM)。随后扫描透射电子显微镜(STEM)、扫描电子显微镜(SEM)以及上述产品与X射线分析系统(EDS、WDS)的结合，即各种不同类型分析型电子显微镜相继问世。
分析共聚焦显微镜的Z轴分辨率
共聚焦显微镜是靠提高反差消除Z轴的干扰杂光提高的清晰度。普通的荧光显微镜在Z轴方向的精度和共聚焦没有办法比的，虽然现在的Z轴马达可以达到很高的精度，但因为Z轴分辨率不够，即便沿Z轴做多层采集，Zui后采集到的仍然一个图像。
检验显微镜物镜质量好坏的方法
显微镜的物镜质量可以利用衍散斑的原理很容易进行鉴定。我们裁剪一块未经冲洗的黑白照相底片放在盖玻片下，用低倍物镜寻找极微小的透光孔。这类底片上涂布的感光胶膜是不透光的，但在这种胶片上总是有一些比显微镜Zui小分辨距离更小的小孔，作为理想的点光源。用高倍目镜边观察边用微调螺旋提升或下降物镜。
无限远校正光学系统原理介绍
无限远校正光学系统中，由标本通过物镜的光线不在物镜成像，而是作为无限远的平行光束进入成像透镜，由成像透镜形成中间像。而在有限远校正光学系统中，则由物镜单独形成中间像。
光学显微镜的种类介绍
从标本（欲观察的物体）上方进行观察的，是众所周知的、Zui普通的直立式显微镜（左侧照片），用途非常广泛。从标本下方观察的是倒置式显微镜（右侧照片），用于观察矿物切片、金属材料等的截面。
显微镜成像的关键因素—像差
由于客观条件，任何光学系统都不能生成理论上理想的像，各种像差的存在影响了成像质量。所谓像差（aberration），是指测量显微镜或者体视显微镜透镜或反射镜所呈的像与原物面貌并非完全相同的现象。像差又可以分为几类，例如球面像差是由于一点光源发散的光线被分聚在不同的点上的缘故。
Leica 高速玻片扫描仪的应用介绍
Leica 新推出的SCN400 玻片扫描仪具有令人惊奇的扫描速度，此外，SCN400 还具有动态焦点追踪功能，使它在高速扫描的同时能够获得更多的精确信息。与传统的扫面仪相比，这无疑大大提高了扫描的效率。