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光学显微镜的种类介绍
从标本（欲观察的物体）上方进行观察的，是众所周知的、Zui普通的直立式显微镜（左侧照片），用途非常广泛。从标本下方观察的是倒置式显微镜（右侧照片），用于观察矿物切片、金属材料等的截面。
显微镜成像的关键因素—像差
由于客观条件，任何光学系统都不能生成理论上理想的像，各种像差的存在影响了成像质量。所谓像差（aberration），是指测量显微镜或者体视显微镜透镜或反射镜所呈的像与原物面貌并非完全相同的现象。像差又可以分为几类，例如球面像差是由于一点光源发散的光线被分聚在不同的点上的缘故。
了解光学测量--工具显微镜
光学测量是光电技术与机械测量结合的高科技。借用计算机技术，可以实现快速，准确的测量。方便记录，存储，打印，查询等等功能。据中国仪器超市介绍，光学测量主要应用在现代工业检测，主要检测产品的形位公差以及数值孔径等是否合格。
工具显微镜对渗锌层层深的检测
借助工具显微镜测量金属制品的渗锌层深，相比磁性法测量准确，相比金相显微法测量误差小，相比扫描电镜分析方法成本更低；利用工具显微镜CCD摄像及软件中的直线间求距功能测量渗锌层深。
测量显微镜的主要特点及作用
利用旋转载物台与目镜下端之游标微分角度盘，配全合目镜之址字座标线，作角度量测，令待测角一端对准十字线与之重合，然再让另一端也重合。利用标准检测螺纹的节距、节径、外径、牙角及牙形等尺寸或外形。
工具显微镜的结构及保养技巧
小型工具显微镜是由精密十字移动工作台及观测显微镜构成的，是属于小型工具显微镜，设计时是以轻易使用为主，所以支柱不会倾斜，照明设备亦采简易型，固然轻易但和很多附属品相连接后，就能够增加各种测定工作。
工具测量显微镜的基础简介
测量显微镜，历史上是以准确的倍率把工件形状放大以后，通过与模板进行象面比对，进行测量、检查的显微镜。为此，与通常的观察用显微镜不同，它采用与轮廓投影仪相同的远心光路系统，其物镜倍率也很准确。
尼康显微镜的双透镜系统的特性分析
在并不在于一个透镜焦平面的光点源的调查，很多时候方便来代表一个完美的透镜作为两个单独的镜头元素构成的一个系统。本教程将探讨离轴斜光通过这样一个系统。
奥林巴斯显微镜电子光探测器的介绍说明
在现代广角荧光和激光扫描共聚焦显微镜，收集和二次发射测量收集的目的可以通过光敏检测器，几类，包括光电倍增管，光电二极管，和固态电荷耦合器件（CCD）。在激光共聚焦显微镜，荧光发射是通过一个针孔孔径定位在图像平面排除光从远离物镜焦平面荧光灯结构，从而减少了可用的图像形成的光的数量。作为一个结果，在非常低光水平Zui常见的共聚焦显微镜需要高度敏感的光子探测器不需要使用空间的歧视，而是很快作出反应具有高度的敏感性，连续通量变化的光照强度。
徕卡超分辨率gsdim显微镜的发展历史
纳米技术GSDIM (其次是个别分子返回基态枯竭显微镜) 提供详细的图像的蛋白质和其他生物分子在细胞内的空间布局。帮助向更多的研究实验室和成像中心的用户提供的GSDIM 技术市场上第一个商业系统 （徕卡 SR GSD） 是现在。利用超分辨率 GSDIM显微镜，细胞隔间和地区，如纤毛或单一的蛋白质，与他们互动的伙伴可以成像分辨率低于衍射极限，即在两位数纳米的范围，使得科学家们能更多地了解细胞内复杂的相互作用。
尼康显微镜早期的Apophot Table
Apophot Table显微镜通用代表尼康第一次尝试创建大站的研究手段。大约 75 磅仪器与 S 系列显微镜，共享很多的可互换部件，但也以为特色专属配件，如 epi 照明系统。
尼康显微镜矫正项圈的校准
大多数显微镜物镜被设计成与盖玻璃具有0.17毫米的标准厚度和1.515的折射率，这是令人满意的，当物镜的数值孔径为0.4或更小使用。 然而，使用高数值孔径干物镜（0.8或更大的数值孔径），只有几微米的玻璃盖的厚度变化时导致剧烈图像劣化由于像差，生长恶化而增加玻璃盖的厚度。