JEOL TEM专家Aoki对Lehigh大学的访问

Toshi Aoki 博士帮助用户优化JEOL 场发射透射电镜的成像和分析功能

在仅仅轻触一下超高分辨显微镜的微调，JEOL应用专家Toshi Aoki 就能帮助帮助用户优化JEOL场发射显透射电镜的成像和分析功能。从9月开始，他将以访问学者的身份开始在Lehigh大学的访问。

在日本Kumamoto大学学习材料学期间，Aok开始了对高分辨率显微镜的着迷。在攻读博士和博士后期间，他选择Arizona州立大学开始了熟悉的显微镜项目。为了更全面的理解机器本身，他于2004年加入JEOL 透射电镜美国售后服务部，从那开始成为场发射电镜硬件以及应用方面的专家。

进入公司后，Aoki为许多用户优化了场发射电镜，帮助他们实现特定应用。在Lehigh协助培训期间，不但在Bethlehem、 Pennsylvania校内，而且通过对校外实验室的远程操作，他都可以对JEM-2200FS做研究工作必要的改进。做访问学者期间，他将和 Lehigh 显微镜学院纳米表征实验室的主任Christopher教授以及材料科学和工程的副教授Masashi Watanabe一起工作。

Aoki将会继续支持FE TEM的用户，和大家分享他的知识，并在他所擅长的尖端技术知识方面，继续努力培训JEOL的售后工程师。

美国成功引入JEOL的第一台场发射透射电镜后，有了Aoki 的加入，JEOL USA售后服务部如虎添翼。场发射透射电镜对高分辨光学和分析能力的技术要求和其他机器不同，越来越多的用户需要新的支持。JEOL公司需要象Aoki这样的人。

 “Toshi在科学应用方面的知识很丰富，这将会有益于JEOL，同时他想了解机器的基础知识，他对硬件很感兴趣并想知道如何测试机器 ”，McGinley解释说：“Aoki跟着JEOL安装团队开始从基础学习机器，他的第一个安装是在加拿大的Ecole Polytechnique ，那是一年中Zui冷的时候。从那以后，他对多个支持和测试做了支持工作，并为TEM工程师撰写了验收测试程序手册。”

“我职业生涯的第一阶段是在JEOL，理解机器，研究怎么更好的发挥功能，把知识传授给工程师”，Aoki说：“在为Lehigh做培训时，我发现以自己的经验能改进STEM校正器。基于这一点， Lehigh要求我考虑做访问学者研究改进机器。这些应用在 Lehigh 机器上的技术能使机器进行高分辨率成像，进行EELS和EDS实验。”他的工作不仅有益于JEOL和Lehigh，其他用户同样也愿意改进他们的JEOL FE TED。

Aoki的经验将在理论知识和机器工程师方面架起一道桥梁。能和很多杰出的显微镜学家一起工作，他感觉很荣幸。

随着整合了Cs校正器的冷场发射电镜ARM200F的推出，Aoki将回到日本学习这个具有80P米超高分辨的透射电镜。他已经实现了自己的梦：和世界上Zui强大机器一起工作，未来他将要继续提高JEOL服务工程师对高品质机器的调节水平。