CW300S-70表面缺陷扫描显微镜
CW300S-70表面缺陷扫描显微镜

CW300S-70表面缺陷扫描显微镜

工程师支持
品牌
MicroDemo
产品编号
1488
产品型号
CW300S-70表面缺陷扫描显微镜
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用途:

零部件扫描、快速检测、快速成型、清洁度检测、颗粒度分析、医用针制造,电缆绝缘层检测、科学研究、计算机视觉、先进制造、数字文物、数字博物馆、考古研究、显微形貌。
 
功能介绍:
1·本扫描显微镜可以快速扫描样品表面数据,能扫描颗粒、空洞、沟槽,断裂的表面。
2·具有图形编辑功能,可以去噪、标准化,去处不需要部分
3·扫描速度可以无级调整,可以快速预览扫描结果
4·可以通过标定自定位,进行自动拼接,无需贴标记点;也可以手工辅助拼接。
5·提供标定功能,无需返厂即可进行精度校正,标定完成后,会自动分析标定结果报告,保证标定质量
6·提供多处理器优化,使多核工作站能全速运行,获得实时性能
7·可以生成多种数据格式,供其他软件使用,包括sfl,ply等,可以转换到AutoCAD,Geomagic Studio,Rapid Form中进行高级处理 。
 
扫描范围及精度:

产品型号

 CW300S-70

单面扫描范围(mm)

 250×70

单幅最高精度(mm)

 0.005

平均点距(mm)

0.04

单面扫描速度(s)

<30s

扫描方式

非接触/面扫描

拼接方式

标志点全自动拼接